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颗粒表征分析仪的技术原理及功能特点

发布时间:2022-01-04      点击次数:217
  颗粒表征分析仪无需更换透镜,无需使用标准样校准,量程范围达到0.02微米至3600微米,测量速度高达20000次/秒,兼具高灵敏度和重现性,对所有类型的样品均可获得准确可靠的结果。
  
  仪器利用颗粒对光的散射(衍射)现象测量颗粒大小的。即光在行进过程中遇到颗粒(障碍物)时,会有一部分偏离原来的传播方向,颗粒尺寸越小,偏离量越大;颗粒尺寸越大,偏离量越小。
  
  散射现象可用严格的电磁波理论,即Mie散射理论描述。当颗粒尺寸较大(至少大于2倍波长),并且只考虑小角散射(散射角小于5°)时,散射光场也可用较简单的Fraunhoff衍射理。
  
  颗粒表征分析仪的特点:
  
  1、重复性好
  
  仪器采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中,即可获得准确的测试结果。
  
  2、采用半导体激光发生器
  
  具有光参数稳定、效率高、寿命长、不怕振动等一系列优点,克服了传统气体激光器由于自然漏气,需定期更换的缺点。
  
  3、测试迅速
  
  由于无须沉降过程,使测试速度大幅度提高,在通常情况下,1分钟内即可完成一次样品测试。(注:不包括样品制备时间)。
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