纳米颗粒跟踪分析仪通过子体积的扫描，来自于数以千计的颗粒的zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此外，颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。
测量范围依赖于样品和仪器。对于样品，颗粒跟踪技术的检测下限为10nm；相应的，如果样品的散射能力较弱，则检测下限会变得更大。假如样品稳定，不会沉淀或漂浮，zeta电位测量的粒径上限为50微米，对于粒径测量为3微米。
纳米颗粒跟踪分析仪的主要优势在于其全新的增强型荧光检测能力，能够提供整体分析。完全由软件控制的6位滤光轮意味着可在操作员不在场的情况下自动分析多个荧光标记物，从而节省研究人员的宝贵时间。
1、同时测量多个特征，节省时间和样本量；
2、可视化结果验证增加信任度；
3、用户友好型软件可通过SOP轻松设置，适于日常使用；
4、小化样本制备量；
5、机载温度控制；
6、激光波长可选；
7、电动轮中多可选择6个不同的滤光器，增强了荧光检测能力。
纳米颗粒跟踪分析仪技术原理：
纳米库尔特是一种单颗粒检测方法，每个穿孔的粒子在瞬间产生与粒子体积成比例的电流改变量，持续时间与粒子的速度成正比，从而与流体的流速成反比。通过微电流检测系统记录每个粒子的电脉冲信号，再经过智能分析软件计算，即可准确地得到样品颗粒浓度、粒径、zeta电位、形态等分析结果。
