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粒纳米粒度仪如何进行光路对中?

发布时间:2022-02-18      点击次数:117
  目前粒纳米粒度仪采用的都是两维对中系统,一般采用步进电机通过轴套来带动移动尺来提供动力。
  
  步进电机和轴套、轴套和移动尺之间都是通过顶丝连接,导致三个器件的中心不在一条直线上,且移动尺正转和反转的之间的空转间隙较大,导致对中系统不稳定,不能快速而准确地完成对中,现有对中系统都没有限位系统,如果光路本身出现问题,对中系统就会出现误判断,一直朝着一个方向运动损坏机械传动组件。
  
  针对现有技术的不足,瑞芯智造(深圳)提供一种设计合理、结构简单紧凑、使用方便的三维自动对中系统。
  
  1、为了提高对中系统的精准度,减小空转长度,采用带丝杠的步进电机作为动力部件。
  
  2、为了提高对中系统的稳定性,采用消隙的滑轨作为机械传动组件的核心部件。
  
  3、为提高对中速度和防止出现误操作,采用光电传感器与限位片结合的方式来限位。
  
  新型的三维自动对中系统与现有技术相比,具有如下优越的特点:
  
  1、实现了三维自动对中。
  
  2、设计合理、结构简单紧凑。方便实用,可用于各型号的粒纳米粒度仪。
  
  3、采用自带丝杠的步进电机和消隙滑轨结合的方式能够稳定、快速、准确地实现三维对中需求。
  
  4、采用光电传感器与限位片结合的方式来限位,能够防止因光路问题引起的传动系统损坏。
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